Investigadores del MIT utilizan IA para descubrir defectos atómicos en materiales

Investigadores del MIT han desarrollado un modelo de IA que clasifica y cuantifica defectos puntuales en materiales utilizando datos de una técnica no invasiva de dispersión de neutrones. Entrenado con 2.000 materiales semiconductores, el modelo detecta hasta seis tipos de defectos simultáneamente, algo imposible con métodos convencionales. Esta innovación permite medir con precisión las concentraciones de defectos en productos terminados como semiconductores, células solares y baterías, mejorando su fuerza mecánica, transferencia de calor y eficiencia energética. Representa un avance clave en la ciencia de defectos para optimizar materiales avanzados.